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日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀
產品名稱: 日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀
產品型號: WPA系列
產品特點: 日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀,是一款高精度光學測量設備,通過三波長測量技術,將位相差測量范圍拓展至 0~3500nm,適用于薄膜、透明樹脂等產品的厚度、相位差、應力測量,覆蓋從顯微鏡尺寸到約 50cm 大尺寸樣品,是光學材料、薄膜、樹脂制品檢測的專業儀器。
日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀 的詳細介紹
日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀
日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀
WPA 系列采用三波長測量分布技術,突破傳統測量局限,將位相差測量范圍拓展至 0~3500nm,可精準測量薄膜、透明樹脂等透明 / 半透明樣品的相位差、軸方位,數據處理選項還可實現應力值換算,滿足光學材料、薄膜制品的高精度檢測需求。設備測量精度高,位相差重復再現 σ<0.1nm,軸方位 σ<0.1°,確保檢測結果穩定可靠。
多型號適配全場景
系列包含三款型號,覆蓋不同尺寸樣品的檢測需求:
WPA-200:小型臺式,適合實驗室、小尺寸樣品檢測,重量僅約 13kg,安裝便捷;
WPA-200-L:中型款,視野尺寸更大,適配中等尺寸樣品,兼顧精度與效率;
WPA-200-XL:大尺寸款,最大可測約 50cm 樣品,適合大型板材、面板檢測,滿足工業大尺寸樣品檢測需求。
應用領域廣泛
設備適用于多個行業的檢測場景:
操作與維護
設備配套 WPA - 視圖軟件,操作界面直觀,可實時查看測量數據、生成分析報告;支持連續 / 間歇測量,適配不同檢測流程;設備結構穩定,維護簡單,GigE 接口實現數據高速傳輸,配套臺式電腦可直接完成檢測操作,無需復雜調試。