產品資料
Photonic Lattice 相位差測量儀
產品名稱: Photonic Lattice 相位差測量儀
產品型號: WPA-300 / WPA-300-L
產品特點: Photonic Lattice 相位差測量儀，是 WPA-200 系列的升級款，通過三波長測量技術實現大位相差面分布測量，傳感器分辨率提升 5 倍，可精準捕捉細微位相差變化，適用于薄膜、透明樹脂、光學材料的相位差、應力、厚度檢測，是高精度光學檢測的專業儀器。
Photonic Lattice 相位差測量儀 的詳細介紹
Photonic Lattice 相位差測量儀
Photonic Lattice 相位差測量儀
核心技術與性能升級
WPA-300 系列在保留 WPA-200 系列大位相差測量性能的基礎上，將偏光圖像傳感器的分辨率提升 5 倍，可實現更清晰的測量，精準捕捉細微的位相差變化并數據化。設備通過 3 個波長（523nm、543nm、575nm）的測量數據比較計算，突破傳統測量局限，實現 0～3500nm 大位相差的面分布測量，適配薄膜、透明樹脂等產品的檢測需求。
高精度測量保障
設備測量精度位相差重復再現 1σ＜0.1nm，軸方位 1σ＜0.1°，確保檢測結果穩定可靠；數據處理選項可直接實現應力值換算，無需額外計算，大幅提升檢測效率。三波長合成測量技術，可有效消除單波長測量的局限性，獲得更全面、準確的樣品相位差分布數據。
多型號適配全場景
系列包含兩款型號，覆蓋不同尺寸樣品的檢測需求：
WPA-300：小型臺式，適合實驗室、小尺寸樣品檢測，重量僅約 15kg，安裝便捷；
WPA-300-L：中型款，視野尺寸更大，適配中等尺寸樣品，兼顧精度與效率，滿足工業生產線檢測需求。
應用領域廣泛
設備適用于多個行業的檢測場景：
光學材料：水晶、玻璃、透明樹脂等相位差、應力檢測；
薄膜行業：各類薄膜厚度、相位差均勻性檢測；
電子行業：儀表板、膠卷等產品的應力、相位差分析；
科研實驗室：材料光學特性研究、應力分析等。
操作與維護
設備配套 WPA - 視圖軟件，操作界面直觀，可實時查看測量數據、生成分析報告；支持連續 / 間歇測量，適配不同檢測流程；設備結構穩定，維護簡單，GigE 接口實現數據高速傳輸，配套臺式電腦可直接完成檢測操作，無需復雜調試。豐富的可選功能，可根據檢測需求靈活定制，滿足不同行業的個性化檢測需求。
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