日本 位相差橢圓偏振測(cè)量?jī)x
日本 位相差橢圓偏振測(cè)量?jī)x
超寬量程覆蓋:突破傳統(tǒng)設(shè)備量程限制,從 2nm 以下的超低位相差到 20000nm 的超高位相差,一臺(tái)設(shè)備滿足全場(chǎng)景測(cè)量需求
LED 光源革命:采用長(zhǎng)壽命 LED 光源,告別傳統(tǒng)汞燈的定期更換,設(shè)備維護(hù)成本大幅降低,同時(shí)提升測(cè)量穩(wěn)定性
精度全面提升:方位角分辨率提升至 0.001°,位相差重復(fù)性提升 3 倍以上,確保測(cè)量數(shù)據(jù)的精準(zhǔn)性與長(zhǎng)期一致性
緊湊型設(shè)計(jì):在不損失性能的前提下,設(shè)備體積大幅縮小,適配實(shí)驗(yàn)室空間緊張的場(chǎng)景
位相差檢測(cè):精準(zhǔn)測(cè)量光學(xué)薄膜、塑料、玻璃的雙折射與內(nèi)應(yīng)力,為材料品質(zhì)管控提供數(shù)據(jù)支撐
橢圓偏振分析:HBPR 型號(hào)可完成橢圓偏振光測(cè)量,精準(zhǔn)計(jì)算薄膜厚度、折射率等光學(xué)參數(shù),適配半導(dǎo)體、光學(xué)涂層行業(yè)
分光測(cè)量:SPC 型號(hào)支持 400~800nm 全光譜分光測(cè)量,可分析樣品的光譜特性,適配復(fù)雜多層膜結(jié)構(gòu)分析
斜入射測(cè)量:支持 30~40° 斜入射測(cè)量,適配偏光片等特殊樣品的檢測(cè)需求
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