美國 HINDS Exicor OIA 雙折射測量光學系統

美國 HINDS Exicor OIA 雙折射測量光學系統

是針對光學元件檢測需求推出的專業設備，可在正入射和斜入射角度下，完成透鏡、平行面光學元件、曲面光學元件的雙折射測量，適配下一代光刻透鏡、透鏡坯料等高價值光學元件的分析與開發工作。

系統核心基于 HINDS Instruments 的照片彈性調制器（PEM）雙折射測量技術，利用偏振電磁波（PEM）調制光束的偏振狀態，搭配優良的檢測和解調電子設備，精準測量光學元件對光束偏振狀態的改變，以此獲取光學延遲數據，進而評估雙折射、快軸方向，以及理論殘余應力。

設備支持自動掃描平行平板、球面透鏡類型，非球面元件可通過手動宏程序完成掃描，可生成 2D 阻尼和快軸方向圖、掃描統計數據，直觀呈現檢測結果。系統配備舞臺前進裝載位置，可從上方自由訪問樣品臺，方便樣品取放；同時搭載紫外線和激光光封閉裝置、安全聯鎖裝置、緊急關閉按鈕、系統狀態指示燈塔，保障操作安全；配套用戶工作站、計算機和顯示器，滿足實驗室與工業場景的使用需求。